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검사계측장비

검사계측장비

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대면적 측정 필요시 Camera와 PC 시스템을 다수 설치하여 병렬로 운영(LCD패널 등)

현재 시장에서는 대면적에 대한 분석을 요구함에 따라 스캔을 통한 이미지 획득이 기본적으로 필요하며, 이에 따라 카메라와 모션과의 동기동작 및 대용량 이미지 데이터 처리 능력이 필수적으로 필요한데 본사는 이에 필요한 모든 기술을 보유하고 있음

  • 물리적 현상에 기반을 둔 알고리즘 개발 기술
  • 이미지 처리 알고리즘 개발 기술
  • 미세진동 및 고속 구동이 고려된 하드웨어 설계 기술
  • 병렬처리(Cuda or PC Cluster) 알고리즘 개발 기술